你知道在X荧光光谱仪分析中的干扰有哪些

你知道在X荧光光谱仪分析中的干扰有哪些

  近年来,X荧光光谱分析广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得zui多也zui广泛。大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,具有分析速度快、分析范围宽、干扰小等特点。那么你知道在X荧光光谱仪分析中的干扰有哪些吗,艾克光谱仪来分析一下?

  1、在X荧光光谱仪分析中,某些元素间可能有全部或者部分谱线重叠。基本参数方程要求使用没有受到谱线重叠影响的净强度。在这些方程中包含某些经验的修正。

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  2、在X射线光谱仪分析中,在某些元素间可能存在元素间干扰或者基体效应。来弥补这些效应的经验方式就是制备一系列校正标样的曲线,浓度范围涵盖要分析的范围。此时需要仔细设计的参考物质。就是所有不需要分析的元素的含量固定,而要分析的元素浓度不同。这就是所谓基体匹配。当然,在X荧光光谱仪分析中可使用数学方法来弥补元素间或者基体的效应。

  3、干扰也可能来自康普敦谱线或者X射线管中靶材所产生的特征谱线,这些通过使用滤光轮去除,但同时也可能导致分析谱线强度的降低。

  4、X荧光光谱仪分析中,干扰也可能来自金相结构的误差,由于分析目标元素的密度受到样品的质量吸收系数的影响,而且数学模型假设的是均质物质,由此带来误差。例如,在含有碳和碳化物的钢材中,钛和镍可能以钛镍化碳合物的方式存在,相比铁对于钛的K-a谱线来讲,其具有较低的质量吸收系数,钛的密度高于这个样品。

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  5、对于X射线荧光光谱仪由于分析的固体进样性质,以及样品表面的性质可能与标样的差异,导致分析的偏差。

  总而言之,样品与标样的不同性越大,其误差越大。所谓不同性包括:基体物质的物理化学性能,例如前面所言的密度,结构,成份组成以及浓度,表面情况,甚至样品中待测试元素的含量是否在标样范围内,每次样品放置的位置等都对于分析结果的准确度有影响。

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